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J-STD-002 「はんだ付性試験:部品リード、ターミネーション、ラグ、端子およびワイヤー」

冊子 日本語

商品説明

『EIA/IPC/JEDEC J-STD-002 部品リード、電極、ラグ、端子およびワイヤーのはんだ付性試験』

EIA/IPC/JEDEC J-STD-002Eは、電子部品のリード、ターミネーション、単線、より線、ラグ、およびタブのはんだ付性を評価するための試験方法、欠陥の定義、許容基準を規定し、またイラストを示すものである。

また、EIA/IPC/JEDEC J-STD-002Eの規格には、はんだ食われ/はんだはじきに対する耐性の試験方法も含まれている。EIA/IPC/JEDEC J-STD-002Eはサプライヤーおよびユーザーの両者による使用を目的としている。

EIA/IPC/JEDEC J-STD-002Eの規格は次の三つの組織によって開発された:IPC、ECIA (電子部品産業協会)、JEDEC(半導体技術協会)。

本規格は、エレクトロニクス業界内で採用されるはんだ付性試験の要求事項と試験方法を規定する2つの基準のうちの1つである。もう1つは、プリント基板側のはんだ付性について言及している。

IPC J-STD-003プリント基板のはんだ付性試験

65ページ。最新E版、2017年原文発行、2021年日本語版発行。

¥ 36,300(税込)

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