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EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E『部品リード、ターミネーション、ラグ、端子およびワイヤーのはんだ付性試験』

冊子 日本語

商品説明

『部品リード、ターミネーション、ラグ、端子およびワイヤーのはんだ付性試験』

IPC-J-STD-002Eは、電子部品のリード、ターミネーション、単線、より線、ラグ、およびタブのはんだ付性を評価するための試験方法、欠陥の定義、許容基準を規定し、またイラストを示すものである。また、IPC-J-STD-002Eの規格には、はんだ食われ/はんだはじきに対する耐性の試験方法も含まれている。IPC-J-STD-002Eはサプライヤーおよびユーザーの両者による使用を目的としている。IPC-J-STD-002Eの規格は次の三つの組織によって開発された:ECIA( 電子部品産業協会)、IPC、JEDEC(半導体技術協会)。

(リビジョンE,2017発行,65頁,日本語)

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¥ 60,500(税込)

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